校準是指測厚儀的制造商在制造過(guò)程中設置的過(guò)程，以確保測厚儀符合所需的精度規范。該程序通常要求將
日本KETT測厚儀設置為已知厚度值，并檢查中間厚度值。在現代電子儀器中，涂層厚度范圍內關(guān)鍵點(diǎn)的值作為參考點(diǎn)存儲在儀表存儲器中。
為什么測試之前需要校準KETT測厚儀？
測厚儀的校準將受到待測金屬基板的材料類(lèi)型、形狀和表面光潔度的影響。例如，鋼合金的磁性能不同，不同鋁合金和不同有色金屬、銅、黃銅、不銹鋼等的導電性也不同。這些變化會(huì )影響涂層測厚儀的線(xiàn)性度。
這意味著(zhù)，在低碳鋼上設置的測量?jì)x將讀取高碳鋼上相同厚度涂層的不同值。類(lèi)似的線(xiàn)性效應也出現在薄的或彎曲的基底上，特別是在壓型基底上，如用于鋼結構的噴砂清理鋼。為了克服這些影響，大多數測厚儀的特點(diǎn)是，將測厚儀設置為正在進(jìn)行的工作，從而提高讀數的準確性。
KETT測厚儀的校準方法：
1、零點(diǎn)校準：?jiǎn)吸c(diǎn)校準—適用于平滑基體表面，將探頭放在沒(méi)有涂層的基體上，儀器將自動(dòng)校準。
2、平滑校準：兩點(diǎn)校準—用戶(hù)選擇合適的校準膜片和平滑、無(wú)涂層基體。
3、粗糙基體/兩點(diǎn)校準：適用于粗糙或者異形基體，用兩個(gè)已知厚度的膜片，一個(gè)高于，另一個(gè)低于被測涂層的厚度。
4、自動(dòng)校準：適用于重復測量，用戶(hù)將已知的校準膜片厚度值存入儀器，當開(kāi)始校準時(shí)，用戶(hù)根據屏幕提示校準儀器，日本KETT測厚儀將自動(dòng)調整存入的膜片厚度值---校準過(guò)程簡(jiǎn)單、快捷。
在ISO19840標準中，任何規定的（或設計的）厚度即被認為是ISO12944-5中定義的額定干膜厚度，而干膜厚度是指粗糙表面峰頂以上的有代表性的涂層厚度。
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